стоит отметить, что все данные техники могут быть
реализованы на базе одного прибора, а именно
электронного микроскопа, за счет его дооснаще-
ния различными аналитическими приставками.
Появление широкого класса относительно до-
ступных зондовых и, в частности, атомно-силовых
микроскопов (АСМ) привело к интенсивной раз-
работке прикладных методов для техники данного
класса, и, разумеется, в области криминалистики
нашлись свои задачи для применения данных при-
боров. Так, данный метод применяется для точного
установления времени смерти по морфологическим
изменениям клеток крови (12), анализ которых про-
изводится с помощью АСМ. АСМ позволяет количе-
ственно оценивать состояние поверхности волокон
различных тканей (например, хлопок, шерсть,
вискоза) при воздействии различных сред (пре-
сная или морская вода, глиняные или пойменные
почвы). На основании полученных данных можно
судить о времени воздействия сред на объект.
В последние годы все большее развитие полу-
чают корреляционные методы, объединяющие
преимущества оптической, световой, электрон-
ной, рентгеновской микроскопии. Применение
подобных методов, например, корреляционного
анализа частиц в оптической и электронной
микроскопии, позволяет повысить произво-
дительность криминалистических лабораторий
в несколько раз. А анализ комбинаций данных,
полученных различными методиками, позволя-
ет получать совершенно новые практические
результаты, например, при дополнении двумер-
ных картин классической световой микроскопии
трехмерным анализом АСМ (13).
Таким образом, для решения множества ис-
следовательских задач в области баллистической
и трассологической экспертизы, палинологии,
токсикологии, криминалистической геологии,
криминалистической химии исследователи-
криминалисты могут воспользоваться широким
спектром хорошо известных и отработанных в на-
учном сообществе методов и их комбинаций. При
этом ключевыми видятся два основных вопроса:
уровень оснащенности лабораторий и уровень
подготовки экспертов, которые не могут рассма-
триваться в отрыве друг от друга.
Список литературы:
1.
Scientific Working Group for Gunshot Residue. Guide for Primer
Gunshot Residue Analysis by Scanning Electron Microscopy/Energy
Dispersive X-Ray Spectrometry. 2011.
2.
American Society for Testing and Materials. ASTM standard E 1588-
10e1: Standard Guide for Gunshot Residue Analysis by Scanning
Electron Microscopy/Energy Dispersive X-ray Spectroscopy. 2010 July.
3.
Stamouli A, McCullough J, Gunaratnam L, Niewoehner L, Nys B.
ENFSI-Guide for Gunshot Residue Analysis by Scanning Electron
Microscopy/Energy-Dispersive XraySpectrometry. ENFSI EWG Firearms,
Version 2.0 2008.
4.
Dalby O, Butler D, Birkett JW. Analysis of Gunshot Residue and
Associated Materials–a Review. Journal of Forensic Sciences 2010; 55
(4):924-943.
5.
Mejia R. Why We Cannot Rely on Firearm Forensics. New Scientist 2005;
188 (2527):6-7.
6.
Grima M, Butler M, Hanson R, Mohameden A. Firework Displays as
Sources of Particles Similar to Gunshot Residue. Science & Justice
2012; 52 (1):49-57.
7.
Windsor S. A Study Using an Alternate Light Source for Positive
Responses to the Modified Griess Test. AFTE Journal 2011; 43 (3):250-253.
8.
López-López M, Delgado JJ, García-Ruiz C. Ammunition Identification
by Means of the Organic Analysis of Gunshot Residues Using Raman
Spectroscopy. Analytical Chemistry 2012; 84 (8):3581-3585.
9.
Latzel S, Neimke D, Schumacher R, Barth M, Niewöhner L. Shooting
Distance Determination by M-XRF–Examples on Spectra Interpretation
and Range Estimation. Forensic Science International 2012; 223
(1–3):273-278.
10.
Cecchetto G, Giraudo C, Amagliani A, Viel G, Fais P, Cavarzeran F,
etal. Estimation of the Firing Distance through Micro-CT Analysis of
Gunshot Wounds. International Journal of Legal Medicine 2011; 125
(2):245-251.
11.
Abrego Z, Ugarte A, Unceta N, Fernández-Isla A, Goicolea MA, Barrio
RJ. Unambiguous Characterization of Gunshot Residue Particles
Using Scanning Laser Ablation and Inductively Coupled Plasma-Mass
Spectrometry. Analytical Chemistry 2012; 84 (5):2402-2409.
12.
Chen, Y.; Cai, J. Y. Micron 2006, 3(4), 339-346.
13.
Gao A, Zhao CZ, Di M, Gao W, Zhang M, Xia DW. Microscopic Investigation
of a Copper Molten Mark by optical Microscopy (OM) and Atomic Force
Microscopy (AFM). Procedia Engineering 2011; 11: 100-106.
87
